美國Bakerhughes 貝克休斯超聲波探傷儀探頭

貝克休斯超聲波探頭 （原美國GE檢測科技）
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歐規(guī)直探頭應(yīng)用

用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷

鍛件、鑄件

金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、機(jī)器零件、殼體

特點(diǎn)

縱波單晶探頭

適合DGS缺陷評判

性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測

可更換保護(hù)膜，保護(hù)探頭不被磨損

柔性保護(hù)膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

合金壓鑄殼體，堅(jiān)固耐用

用于高溫檢測時(shí)可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）

歐規(guī)雙晶直探頭特性

獨(dú)立的聲波發(fā)射和接收單元

縱波垂直傳輸

小焦距探頭具有非常好的近場分辨率

使用耐磨的塑料延遲塊，即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性

延遲塊由一個金屬環(huán)保護(hù)以防磨損

在焦點(diǎn)內(nèi)特別適合剩余壁厚的測量

加上特殊的延遲塊（定制產(chǎn)品）能夠在高溫表面測量

應(yīng)用

近表面的小缺陷探測和評估

焦點(diǎn)內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測

腐蝕、銹蝕剩余壁厚的測量（包括高溫情況下測量）

粘結(jié)檢測

螺釘，螺栓，銷釘

覆層和堆焊層

軸，桿，方坯芯檢測

粗晶材料

火車車輪

SEB..

用于探測棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷，經(jīng)常用作在中等和大尺寸物體（如鍛造或鑄造的物體）中關(guān)鍵部位小缺陷的探測（如氣孔、微孔和熱裂縫）。更適用于平行物體表面的缺陷定位（如層狀結(jié)構(gòu)缺陷、渣孔以及厚鋼板中的分隔線）。

MSEB..

常用于所有類型小零件（如螺桿、螺釘、螺母、銷釘、軸承環(huán)、軸承和裝配材料）的檢測，也可用于壁厚和剩余壁厚的測量（如被腐蝕和侵蝕的管子、容器和機(jī)械零件）。

SEB..KF

體積小巧的小直徑特殊探頭，用于近表面小缺陷的探測。小巧的形狀使這種類型的探頭可以用于一些特殊位置或者不易接近位置的檢測。

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貝克休斯 絕對式渦流探頭 系列

特征：

絕對式

屏蔽式

筆式塑料外殼（方便手持）

Micordot接口

用途：

鐵或非鐵材料的表面開口缺陷檢測

適合在狹窄的空間檢測

貝克休斯 探傷儀歐規(guī)探頭 系列

特點(diǎn)

持久耐磨的工作面

與金屬匹配良好

比保護(hù)膜探頭有更高增益余量

應(yīng)用

用于檢測結(jié)構(gòu)簡單的金屬零件如大型鍛件、鑄件、坯料

小款探頭用于管材、板材、棒材、儲罐、小型鍛件

疊層、分層結(jié)構(gòu)、粘接檢測

大型部件和難于穿透的材料檢測

美國Bakerhughes 貝克休斯超聲波探頭 系列

貝克休斯超聲波探頭
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