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簡(jiǎn)要描述：泰立儀器代理銷售德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀minitest系列 minitest720/730/740，已經(jīng)升級(jí)為： minitest725/735/745
產(chǎn)品型號(hào)：720/730/740廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-12-29訪 問 量：2289產(chǎn)品分類
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| 品牌 | ElektroPhysik/德國(guó)EPK | 價(jià)格區(qū)間 | 1萬-2萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀minitest系列 minitest720/730/740
Minitest720/730/740，已經(jīng)升級(jí)為： Minitest725/735/745
新的MINITEST 700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線，加強(qiáng)了德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司在涂層測(cè)厚市場(chǎng)的。
-創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的精確性
-測(cè)量范圍達(dá)15mm，可F、N或FN探頭，提供內(nèi)置或外接探頭
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯(cuò)
詳細(xì)了解什么是SIDSP技術(shù)
有了新的SIDSP探頭，您可享受到高精確度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢(shì)和便利。新的MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀可以解決您所有涂層厚度問題，而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長(zhǎng)期價(jià)值和成功的關(guān)鍵，比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑，或電鍍等行業(yè)。
增加了測(cè)量速度設(shè)置選項(xiàng)
MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀可以讓您輕松變換測(cè)量需求。在對(duì)精度要求不高的條件下，您可以短時(shí)間測(cè)量大量數(shù)值；也可以只測(cè)量少數(shù)幾個(gè)數(shù)值，但要求精度很高，您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測(cè)量值超過您所設(shè)定的極限值時(shí)，儀器會(huì)報(bào)警，保證您即使在快速模式下也不會(huì)錯(cuò)過任何信息。儀器具備聲、光報(bào)警，在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示，超過極限值則用紅色LED燈提示。
使用簡(jiǎn)單方便
MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀按照人體工學(xué)設(shè)計(jì)，外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性，MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭，方便測(cè)量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀可以滿足您所有涂層測(cè)量需求：如果您想單手測(cè)量，可以選擇內(nèi)置探頭的MINITEST 720。MINITEST 730則是外置探頭的。所有型號(hào)都配有超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。
預(yù)設(shè)選項(xiàng)節(jié)省您的時(shí)間和金錢
所有MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀的探頭都可以對(duì)不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無涂層基體上校零時(shí)，整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。為節(jié)省您的時(shí)間和金錢，儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法，適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，兩點(diǎn)校準(zhǔn)和三點(diǎn)校準(zhǔn)。另外，還有針對(duì)不同粗糙程度的粗糙度校準(zhǔn)。FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體類型避免操作者犯錯(cuò)。為適應(yīng)銷售需要，MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀滿足各種標(biāo)準(zhǔn)：SSPC-PA2、ISO、瑞典(SS184160)、澳大利亞(AS 3894.3)、ISO 19840和ASTM D7091(以前的D1186和D1400)。
優(yōu)點(diǎn)一覽：
-SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加精確
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件
德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀minitest系列 minitest720/730/740
| 主機(jī)型號(hào) | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
| 探頭類型 | 內(nèi)置 | 外置 | 內(nèi)置外置可換 |
| 數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 |
| 存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 | zui多10,000個(gè) | zui多10,000個(gè) | zui多100,000個(gè) |
| 統(tǒng)計(jì)值 | 讀值個(gè)數(shù)、zui小值、zui大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置) | ||
| 校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 | ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) | ||
| 校準(zhǔn)模式 | 出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、三點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 | ||
| 極限值監(jiān)控 | 聲、光報(bào)警提示超過極限 | ||
| 測(cè)量單位 | μm，mm，cm；mils，inch，thou | ||
| 操作溫度 | -10℃~60℃ | ||
| 存放溫度 | -20℃~70℃ | ||
| 數(shù)據(jù)接口 | IrDA1.0(紅外接口) | ||
| 電源 | 2節(jié)AA電池 | ||
| 標(biāo)準(zhǔn) | DIN EN ISO1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 | ||
| 體積 | 157mm x75.5mm x 49mm | ||
| 重量 | 約175g | 約210g | 約175g(內(nèi)置)/230g(外置) |
探頭
| 探頭特性 | F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5 | F2 | F5，N2.5，F(xiàn)N5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
| 測(cè)量范圍 | 0~1.5mm | 0~0.7mm | 0~-2mm | 0~5mm | 0~2.5mm | 0~15mm |
| 使用范圍 | 小工件，薄涂層 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | ||
| 測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
| 信號(hào)處理 | 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP) | |||||
| 精確度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | |||
| 重復(fù)性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | |||
| 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
| zui小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
| zui小曲率半徑 (凹，外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
| zui小曲率半徑 (凹，內(nèi)置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | |||
| zui小測(cè)量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
| zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
| 連續(xù)模式下測(cè)量速度 | 每秒20個(gè)讀數(shù) | |||||
| 單值模式下zui大測(cè)量速度 | 每分鐘70個(gè)讀數(shù) | |||||
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